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專題課程

硬件測試技術(shù)

我要報(bào)名

編輯日期 2018-08-16  閱讀次數(shù):710 次

一、課時(shí)安排

2天(12小時(shí))

二、課程對象

從事電子產(chǎn)品測試、設(shè)計(jì)、制造、試驗(yàn)和管理的工程技術(shù)人員。

三、課程特色

內(nèi)容:經(jīng)驗(yàn)、技巧、新穎、實(shí)用、深入、全面。

方式:全程案例教學(xué),看圖說話,言傳心授。

特點(diǎn):有圖有真相,通俗易懂。

效果:立竿見影。

四、培訓(xùn)收益

給一個(gè)機(jī)會,獲百倍收益:

1.能夠合理選擇硬件測試項(xiàng)目和試驗(yàn)方法

2.免費(fèi)得到以下資料:

1)本課程電子課件

2)各種元器件及家電產(chǎn)品測試手冊

3)電影

1)PCB測試、分析及維修技術(shù)

2)電子組件電測試技術(shù)

4)智能變頻器測試分析案例

五、授課大綱

注:以電子電氣測試為重點(diǎn),解析大量實(shí)例,培養(yǎng)學(xué)員分析、解決實(shí)際問題的能力。講課內(nèi)容屆時(shí)根據(jù)實(shí)際情況會有所調(diào)整。

1 硬件測試概述

硬件測試目的

測試需求的來源

硬件測試的基本原則

硬件測試種類

硬件測試流程技術(shù)

2 硬件測試準(zhǔn)備技術(shù)

FMEA

硬件可測試性設(shè)計(jì)

可測試性的內(nèi)涵

PCBA可測試性設(shè)計(jì)

PCB可測試性的條件

影響PCB測試策略的參數(shù)

PCB可測試性的關(guān)鍵技術(shù)

常用PCB可測試性技術(shù)

Ad-hoc測試技術(shù)

掃描技術(shù)

內(nèi)建自測技術(shù)(BIST)

幾種可測試性技術(shù)的比較

設(shè)備和系統(tǒng)可測試性設(shè)計(jì)

測試計(jì)劃

測試的安全措施

3 硬件電氣測試技術(shù)

低頻電路測試技術(shù)

工程案例

ICT測試

電路板故障檢測儀

各種元器件特性曲線測試

高速電路測試技術(shù)

信號完整性測量工具

示波器的使用

探頭補(bǔ)償

使用探頭尖端觸點(diǎn)時(shí)注意事項(xiàng)

小信號測量降低噪聲

避免從探頭屏蔽檢取電流

集總式電路特性測試技術(shù)

信號質(zhì)量測試

信號質(zhì)量測試方法

測試結(jié)果分析

硬件信號質(zhì)量測試案例

數(shù)據(jù)線毛刺

FLASH芯片工作異常、損壞率高

信號時(shí)序測試

信號時(shí)序測試條件

信號時(shí)序測試覆蓋范圍

測試參數(shù)

信號時(shí)序測試過程

時(shí)序測試案例

誤碼嚴(yán)重

容差、容錯(cuò)定量測試(操作容限測試)

附加噪聲

調(diào)節(jié)寬總線上的定時(shí)

通過同軸電纜延時(shí)調(diào)節(jié)時(shí)鐘

通過脈沖發(fā)生器調(diào)節(jié)時(shí)鐘

用于時(shí)鐘相位調(diào)節(jié)的簡單電路

用鎖相環(huán)調(diào)節(jié)時(shí)鐘

通過改變電壓調(diào)節(jié)時(shí)鐘

供電

溫度

數(shù)據(jù)吞吐量

射頻微波測試基礎(chǔ)

搭接阻抗測試

硬件測試自動(dòng)化技術(shù)

4 硬件安全測試技術(shù)

標(biāo)志和文件

防電擊測試

電氣間隙和爬電距離測試

介電強(qiáng)度試驗(yàn)

供電電源的斷開試驗(yàn)

產(chǎn)品防機(jī)械危險(xiǎn)檢驗(yàn)

產(chǎn)品耐機(jī)械沖擊、撞擊試驗(yàn)

設(shè)備溫度限制和防止火的蔓延

耐熱試驗(yàn)

元器件安規(guī)測試

開關(guān)電源安規(guī)測試

小功率電動(dòng)機(jī)檢測

鋰離子電池安全性

結(jié)構(gòu)測試

EMP電子線路評估測試

5 環(huán)境適應(yīng)性測試技術(shù)

應(yīng)用范圍

高溫試驗(yàn)

低溫試驗(yàn)

溫度變化

濕熱試驗(yàn)

振動(dòng)試驗(yàn)

沖擊和碰撞

防塵防水試驗(yàn)

潮濕試驗(yàn)

腐蝕試驗(yàn)

紫外燈耐氣候試驗(yàn)

離心加速度試驗(yàn)

低氣壓試驗(yàn)

6 硬件測試管理技術(shù)

產(chǎn)品測試組織

硬件驗(yàn)收流程

測試問題的解決

測試問題的確認(rèn)

測試問題的定位

測試問題反饋方式和流程

測試問題跟蹤和解決流程

測試效果評估

測試度量指標(biāo)

評審

經(jīng)驗(yàn)總結(jié)的形式

遺留問題處理

市場規(guī)模應(yīng)用跟蹤

產(chǎn)品故障率統(tǒng)計(jì)

測試文件管理

測試用例

測試報(bào)告

測試規(guī)范制定

需要哪些規(guī)范

規(guī)范的制定準(zhǔn)則

測試人員的等級認(rèn)證

7 綜合案例

電源類測試

開關(guān)電源測試

DC-DC電源內(nèi)部測試

計(jì)算機(jī)硬件測試

MEGAWIN MCU內(nèi)部測試

網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)硬件測試技術(shù)

光模塊內(nèi)部測試

手機(jī)硬件測試

測試用例

狀態(tài)監(jiān)測


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